实验室供气方式是采用将气瓶安置在仪器设备的旁边，危险气体的气瓶放置在气瓶柜内。排气采用直接排放到实验室或是通过简易的管道排放到窗外。在实验室的发展过程中，随着实验室仪器设备的增加，实验室内经常是密布着各种各样的管道和气瓶。这样处理既造成了非常大的安全隐患，也不美观。
新闻:陕西实验室气路设计方案

使用低通滤波器(如RC滤波器)，或者使用共模扼流圈来过滤输入信号，可以减少共模噪声。重要的是，不对称衰减的共模噪声会产生差模噪声。在实际应用中，不对称衰减的一个例子是低通滤波器;用一个电阻和电容实现截止频率，但受元件容差影响，两条线路中的截止频率不一样。第二种，也是麻烦的噪声是差模噪声，这种噪声是在激励与系统GND之间耦合的。该噪声之所以会耦合到信号中，是因为系统GND与充当天线的信号电缆之间存在电流环路。
实验室的很多设备的运行都需要各种各样的气体供应，同时也会产生废气。如何既安全又方便地解决供排气问题，也是一直以来困扰实验室工作人员的问题之一。
正确的实验室供排气的解决方案是把实验室的供排气看作一个系统。这个系统要考虑到安全性、便利性、日常实验室的管理、气瓶的更换等问题，同时要重点考虑实验室今后的发展，对于特殊气体还要考虑特殊的技术解决方案。
（一）设计标准
1、《工业金属管道设计规范》［GB50316-2000（2008版）］；
2、《工业金属管道工程施工及验收规范》（GB50235-1997）；
3、《现场设备、工业管道焊接工程施工及验收规范》（GB50236-1998）；
4、《乙炔站设计规范》（GB50031-1991）；
5、《氢氧站设计规范》（GB50177-2005）；
6、《氧气站设计规范》（GB50030-1991）；
7、《压缩空气站设计规范》（GB50029-2003）；
8、《深度冷冻法生产氧气及相关气体安全技术规程》（GB16912-2008）。
（二）技术要求
1、气瓶间：
①气瓶间应采用300mm厚实体墙，安装防爆门，设置泄爆窗；
②室内电器设备均应具备防爆功能；
③室应安装排气扇，时刻保持良好的通风状态；
2、供气系统要求采用两级减压的方式进行供气，供气汇流排次减压，气体由15Mpa减压到1.5Mpa以下，再输送到各用气实验室，二级减压器安装在各用气实验室或用气点，方便统一控制通风柜或仪器用气的输入压力，用气终端配有中压球阀和压力指示表，二级减压器对压力进行调整(0.01Mpa)，得到稳定的压力，可以满足仪器对不同使用压力的要求，一、二级减压器均配有压力表，可实时显示当前压力；
3、采用双侧汇流排半自动方式不间断供气，充分满足实验室的使用要求，更换气瓶时，可通过安装在高压软管下面的卡套进行气瓶更换；
4、氢气和乙炔属于易燃气体，应设计气体泄露探测报警装置，并安装阻火器，防止明火回流，易燃与助燃气体敷设应保证足够的安全距离。

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FLIR公司近宣布了下一代FLIR“黑黄蜂3”(BlackHornet3)纳米无人机，这是世界上的经过实战的版本私人系统。BlackHornet3为各国、机构和应急响应人员所打造。BlackHornet3可以昼夜提供短程监视，使行动人员能够随时随地保持态势感知、威胁探测和监视能力。资料图片：FLIR“黑黄蜂”无人机是目前现役的无人机。FLIRSystems,Inc.(NASDAQ:FLIR)已获得美国陆军授予的26万美元订单，为其提供FLIR黑黄蜂(BlackHornet)个人侦察系统(PRS)。

（三）工程用材
1、管道、球阀、卡套和三通等为316L不锈钢，减压器为高纯气体减压器（不锈钢阀芯），高压软管（连接钢瓶和汇流排）为不锈钢波纹管，在高压软管的进气端，配置单向阀，可以防止更换钢瓶时，软管内的气体外泄，同时避免外界的空气混入气路之中；
2、管道系统：所有的气体管道选用BA级别的316L不锈钢管，在管路上有个过滤杂质和水分的净化装置，使气体在流通过程中不至于被管道系统污染，保证气体的纯度，同时要有明确标示，指示气体的流向；
3、管道的连接：汇流排、终端部分采用卡套连接，便于减压器和阀门的维护管理；
4、终端：在每台仪器之前，配置截止阀和二级减压器（每种气体配置一个）。截止阀用于控制每一个气路的开启与关闭；在仪器需要调整和维修时，能停止任何的仪器的气体供应，减压器用于显示和调整终端的压力。
（四）其它
1、气体管路每间隔1.5m采用管码支架固定，并根据气体管路弯曲的直径，设置合适的支架位置；
2、整个管路安装完毕后，对整个系统做压力测试。参照《工业金属管道工程施工及验收规范》，管路系统在保压24小时后，压力无下降为合格。
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X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1.采样误差：非均质材料样品的代表性2.样品的制备：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3.不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型：不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素体系中，已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关，这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。