德国进口马尔 Mahr Perthometer S2粗糙度仪

Perthometer S2粗糙度仪技术特征
Perthometer S2.  配置 PZK 驱动器的台式表面测量站

Perthometer S2 还包括以下特点:
•  条形图显示传感器位置信号
•  数字按钮输入
•  可记录测量日期和时间
•  轮廓水平和垂直方向缩放比例可调
•  可快速显示测量结果, 包括参数和轮廓演示
Perthometer S2技术数据
测量原理   探针接触测量法
测量范围
范围/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
(± 1,000 μin/.032 μin)
± 250 μm/8 nm
(± 10,000 μin,/.315 μin)
± 2,500 μm/80 nm
(± 100,000 μin/3.15 μin)
65,536 步长/垂直范围
11,200 测量点/标准扫瞄长度
标准  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
轮廓类型  R, D, P, W (轮廓可例转) 
垂直方向缩放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
 (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
水平方向缩放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
用于评定长度轮廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
图形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
(.015/.049/.157/.492/1.575 in)
扫瞄长度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
(.022/.070/.224/.700/2.240 in)
扫瞄长度 1/2/4/8/12/16  mm
(MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
特殊扫瞄长度 0.56 至 120.00 mm, 可调
(.022 in 至 4.724 in)
取样长度个数 1 至 5, 可选
滤波器 (根据 ISO/JIS)  相位滤波器 (高斯滤波器), 按照
DIN EN ISO 11562 标准
特殊滤波器  按照 DIN EN ISO 13565-1, 1997;
lc/ls 按照 ISO 3274, ARC 功能
截止波长 lc 0.08/0.25/0.8/2.5/8 mm
(.003/.010/.032/.100/.320 in)
短截止波长 lc/可选   有
参数  Ra, Rq; Rz, Rt, Rp, Rv, RSm, Rdq, 
(带有公差极限)  Rsk, Rku, Rdc, Rmr, Pmr, Pt, Wt, Pdc
(DIN EN ISO 4287), Wa, HSC, Wg, WSm,
Rz1max, Rmax (DIN 4288),
Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Pdc, A1, A2
(DIN EN ISO 13565)
Rpmax, Rvmax, Rpc (prEN 10049), R, Ar,
W, Aw, Rx, Wx, Wte, Nr, Ncrx, Nw, CP
(ISO 12085), R3z (DBN 31007), RzJ, S
(JIS B 601)
参数表 Rmr; Pmr; Rdc; Pdc; Rk; Rz; Rp;
Nf; CR/CF/CL (轮廓种类可选, 基线
和交叉线可调)

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