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高波长精度光谱分析仪的高波长精度OSA旨在满足制造和实验室用户的需求，它采用紧凑的外形设计，提供的性能，可安装在机架式的LTB-8平台或便携式FTB-4 Pro平台内。

详细介绍

高波长精度光谱分析仪适用于DWDM、CWDM以及DWDM over CWDM网络的光谱分析仪（OSA）

主要功能

• 波长精度

• 是收发器测试、制造环节测试以及DWDM分析的理想之选

• 通过强化OSA的性能，取代波长计和OSA的组合

• 采用小巧的外形设计，提供出色的波长精度

• 特别适用于系统厂商与收发器制造商

• 可安装在LTB-8或FTB-4 Pro平台内

• 使用气体腔基准，终身自动调整波长

• 通过SCPI命令进行远程控制

• 符合IEC 61282-12标准的Pol-Mux OSNR选件

制造和实验室研发环境的理想工具

EXFO的高波长精度OSA旨在满足制造和实验室用户的需求，它采用紧凑的外形设计，提供的性能，可安装在机架式的LTB-8平台或便携式FTB-4 Pro平台内。

高波长精度光谱分析仪取代波长计和OSA组合，减少成本和测试时间

在制造收发器的过程中，通常会进行一系列的测试来评估收发器的质量，包括：中心波长、边模抑制比、功率等。为了获得这些参数非常准确的测量结果，会经常使用不同类型的仪表来进行测试。例如，会使用OSA来测量功率和边模抑制比，而要测量中心波长，则通常需要使用波长计。

这正是FTBx-5243-HWA可以大显身手，改变测试面貌的地方。它可以在C频段，提供±10 pm的波长不确定度，从而取代常见的OSA和入门级波长计的组合。由于能够使用单台设备进行所需的各种光谱测试，因此可以显著节省资本支出并提高测试速度。

在基于衍射光栅的OSA当中，提供的波长精度

FTBx-5243-HWA的典型波长不确定度为±4 pm，并可在C频段内保证±10 pm的波长不确定度。下图所示的FTBx-5243-HWA测试结果表明，几乎所有的测量结果都在真正波长不到±4 pm的范围内。这些测量结果可追溯到加拿大国家研究委员会。这个水平的精度对于如此小巧的设备来说，无疑是非常出色的

得益于集成的气体腔标准，FTBx-5243-HWA可定期自动地校准波长，不需要用户进行任何干预，确保的波长精度。

                                               EXFO设备测量结果

完全的远程控制

FTBx-5243-HWA还提供大量的SCPI命令，用于远程控制，可通过以太网或USB端口访问这些命令。

规格a

a. 除非另行，否则所有规格的适用条件为：温度23 °C ±2 °C、使用FC/UPC连接器，且经过预热。

b. 1528至1563 nm。

c. 典型值。

d. 1520至1610 nm。

e. 半峰全宽。

f. 1525至1565 nm。

g. 在1550 nm处，偏移模式下。每2秒进行一次扫描，持续进行超过2分钟。采用DFB激光器。

h. 取平均值。单次扫描：-75 dBm（典型值）。

i. 在1550 nm处，-10 dBm输入功率。

j. 在1550 nm处，采用窄单色光源。

k. 45 nm径距、全分辨率、20次峰值，在FTB-4 Pro平台上。

l. 1525至1570 nm。在FTB-4 Pro平台上。