Wafer晶圆表面颗粒缺陷检查灯 黄绿光表面检查灯 高照度晶圆LED检查灯 

wafer晶圆颗粒缺陷检查灯是一款黄绿光表面检查灯（或者是白光），检测灯的原理利用适合的LED灯源，通过光学镜片折射出特殊波长的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点，取代传统的照明设备和光学系统机台，直接通过照明光线和肉眼，观测出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，极大的节省了一般工厂的采购成本。 黄绿光检查灯采用人眼最敏感510-590NM之间波长光，来做最简单与明确的判别，可精确检查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有绿光和黄光2种颜色的复合光，几乎可检测出所有尘埃，大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达15万LX，最小可以检测1μ的表面脏污，比传统的检查灯，效用增强10倍.。
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯参数规格
高照度晶圆LED检查灯；晶圆颗粒缺陷检查灯；Wafer表面检查灯
光 源：20W 高亮度进口LED加定制的光学镜片； LED平均寿命是30000小时
照度：距离40cm → 9万lx；距离30cm → 15万 lx（我们掌握了核心技术，我们可以提供不同照度的平行灯，它们可满足不同客户的要求）
照射面积：  8-16cm直径的光圈 在40cm的距离（通过调焦距调光）
调光方式： 无极调光：从0% ~ 100%；消耗功率：20 W
电源：采用110-220V电源供电（交流供电），可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性： > 90 ％